Transmission Electron Microscopy Sample Preparation: From Specimen to Micrograph

· Springer Nature
Sách điện tử
317
Trang
Điểm xếp hạng và bài đánh giá chưa được xác minh  Tìm hiểu thêm

Giới thiệu về sách điện tử này

This book is a thorough guide tailored for researchers, academics, and practitioners immersed in the intricate world of Transmission Electron Microscopy (TEM). It offers a seamless blend of theoretical understanding and practical insights, providing readers with the essential skills to navigate the complexities of TEM sample preparation for optimal imaging.

The book begins by introducing the basics of TEM operation, progressing to advanced modes, and dedicating significant attention to the nuances of sample preparation. Each chapter serves as a stepping stone, guiding readers from specimen selection to the acquisition of high-resolution micrographs. The motivation behind this book lies in addressing the practical challenges of TEM operation and sample preparation. The book bridges the gap between theory and application, offering a simplified yet scientific repository of dos and don’ts for achieving successful results in TEM sample preparation.

Within these pages, readers will explore various thinning techniques, delve into the preparation of nanomaterials and biological samples, and grasp the intricacies of cryo-TEM and in-situ TEM. Along with troubleshooting guidance to common pitfalls, the book also provides practical tips for overcoming challenges in the sample preparation process. The book also addresses the importance of properly prepared TEM samples, emphasizing the often-underestimated role they play in unlocking the full potential of TEM imaging. Real-world case studies showcase the impact of high-quality sample preparation across diverse research fields.

This book is not just an informative guide; it is a journey of transformation and enlightenment, empowering the reader with the confidence and expertise needed for precise sample preparation and quality imaging.

Giới thiệu tác giả

Dr. Rajender Singh currently serves as a scientific officer in the Electron Microscopy Section at the Department of CIL/SAIF, Panjab University, Chandigarh, India. With nearly 13 years of experience in the field of electron microscopy, Dr. Singh is a seasoned expert in many facets of TEM sample preparation. His role involves analyzing diverse samples from material science and life science areas across India, utilizing cutting-edge instruments such as TEM (H7500, 120KV), HRTEM with SAED, EDS (Oxford), and FESEM with EDS (Hitachi SU8010). Dr. Singh is not only responsible for the operation of sophisticated instruments but also leads training modules for students at various academic levels, focusing on TEM, HRTEM, SEM, FESEM, ultramicrotome, and Critical Point Dryer (CPD) instruments.

His technical skills span handling HRTEM JEOL 2100 Plus independently, performing maintenance for various TEM models, and interpreting STEM bright field and dark field imaging.

Xếp hạng sách điện tử này

Cho chúng tôi biết suy nghĩ của bạn.

Đọc thông tin

Điện thoại thông minh và máy tính bảng
Cài đặt ứng dụng Google Play Sách cho AndroidiPad/iPhone. Ứng dụng sẽ tự động đồng bộ hóa với tài khoản của bạn và cho phép bạn đọc trực tuyến hoặc ngoại tuyến dù cho bạn ở đâu.
Máy tính xách tay và máy tính
Bạn có thể nghe các sách nói đã mua trên Google Play thông qua trình duyệt web trên máy tính.
Thiết bị đọc sách điện tử và các thiết bị khác
Để đọc trên thiết bị e-ink như máy đọc sách điện tử Kobo, bạn sẽ cần tải tệp xuống và chuyển tệp đó sang thiết bị của mình. Hãy làm theo hướng dẫn chi tiết trong Trung tâm trợ giúp để chuyển tệp sang máy đọc sách điện tử được hỗ trợ.