SIMS Diffusion Studies

· Trans Tech Publications Ltd
ای بک
450
صفحات
اہل ہے
درجہ بندیوں اور جائزوں کی تصدیق نہیں کی جاتی ہے  مزید جانیں

اس ای بک کے بارے میں

During the past 40 years, secondary ion mass spectrometry (SIMS) has become increasingly more popular for measuring diffusivities because it avoids the handling problems, environmental concerns and shortage of suitable isotopes which are associated with the use of radioactive tracer methods. It is the most sensitive of all the standard surface analytical techniques, and is capable of detecting impurity elements at less than 1ppm concentration, and bulk impurity concentrations of around 1ppb in certain cases. The sample surface is bombarded with high-energy ions, leading to the ejection of neutral and charged species. The latter can include atoms, clusters of atoms and molecular fragments. Static SIMS is used for sub-monolayer elemental analysis, dynamic SIMS is used for investigating composition as a function of depth below the surface and imaging SIMS is used for spatially-resolved elemental analysis. Static SIMS plus time-of-flight analysis, rather than the usual quadrupole mass analysis, permits a more exact quantitative analysis of specimens. The present compilation of nearly 800 items covers a selection of mainly-quantitative results, obtained using secondary ion mass spectrometry, for diffusivities in a wide range of materials.

اس ای بک کی درجہ بندی کریں

ہمیں اپنی رائے سے نوازیں۔

پڑھنے کی معلومات

اسمارٹ فونز اور ٹیب لیٹس
Android اور iPad/iPhone.کیلئے Google Play کتابیں ایپ انسٹال کریں۔ یہ خودکار طور پر آپ کے اکاؤنٹ سے سینک ہو جاتی ہے اور آپ جہاں کہیں بھی ہوں آپ کو آن لائن یا آف لائن پڑھنے دیتی ہے۔
لیپ ٹاپس اور کمپیوٹرز
آپ اپنے کمپیوٹر کے ویب براؤزر کا استعمال کر کے Google Play پر خریدی گئی آڈیو بکس سن سکتے ہیں۔
ای ریڈرز اور دیگر آلات
Kobo ای ریڈرز جیسے ای-انک آلات پر پڑھنے کے لیے، آپ کو ایک فائل ڈاؤن لوڈ کرنے اور اسے اپنے آلے پر منتقل کرنے کی ضرورت ہوگی۔ فائلز تعاون یافتہ ای ریڈرز کو منتقل کرنے کے لیے تفصیلی ہیلپ سینٹر کی ہدایات کی پیروی کریں۔