SIMS Diffusion Studies

David Fisher

พ.ย. 2013 · Trans Tech Publications Ltd

eBook

450

หน้า

มีสิทธิ์

คะแนนและรีวิวไม่ได้รับการตรวจสอบยืนยัน ดูข้อมูลเพิ่มเติม

เกี่ยวกับ eBook เล่มนี้

During the past 40 years, secondary ion mass spectrometry (SIMS) has become increasingly more popular for measuring diffusivities because it avoids the handling problems, environmental concerns and shortage of suitable isotopes which are associated with the use of radioactive tracer methods. It is the most sensitive of all the standard surface analytical techniques, and is capable of detecting impurity elements at less than 1ppm concentration, and bulk impurity concentrations of around 1ppb in certain cases. The sample surface is bombarded with high-energy ions, leading to the ejection of neutral and charged species. The latter can include atoms, clusters of atoms and molecular fragments. Static SIMS is used for sub-monolayer elemental analysis, dynamic SIMS is used for investigating composition as a function of depth below the surface and imaging SIMS is used for spatially-resolved elemental analysis. Static SIMS plus time-of-flight analysis, rather than the usual quadrupole mass analysis, permits a more exact quantitative analysis of specimens. The present compilation of nearly 800 items covers a selection of mainly-quantitative results, obtained using secondary ion mass spectrometry, for diffusivities in a wide range of materials.

ให้คะแนน eBook นี้

แสดงความเห็นของคุณให้เรารับรู้

ข้อมูลในการอ่าน

สมาร์ทโฟนและแท็บเล็ต

ติดตั้งแอป Google Play Books สำหรับ Android และ iPad/iPhone แอปจะซิงค์โดยอัตโนมัติกับบัญชีของคุณ และช่วยให้คุณอ่านแบบออนไลน์หรือออฟไลน์ได้ทุกที่

แล็ปท็อปและคอมพิวเตอร์

คุณฟังหนังสือเสียงที่ซื้อจาก Google Play โดยใช้เว็บเบราว์เซอร์ในคอมพิวเตอร์ได้

eReader และอุปกรณ์อื่นๆ

หากต้องการอ่านบนอุปกรณ์ e-ink เช่น Kobo eReader คุณจะต้องดาวน์โหลดและโอนไฟล์ไปยังอุปกรณ์ของคุณ โปรดทำตามวิธีการอย่างละเอียดในศูนย์ช่วยเหลือเพื่อโอนไฟล์ไปยัง eReader ที่รองรับ

รายงานเนื้อหาที่ผิดกฎหมาย