SIMS Diffusion Studies

· Trans Tech Publications Ltd
E-bok
450
Sidor
Kvalificerad
Betyg och recensioner verifieras inte  Läs mer

Om den här e-boken

During the past 40 years, secondary ion mass spectrometry (SIMS) has become increasingly more popular for measuring diffusivities because it avoids the handling problems, environmental concerns and shortage of suitable isotopes which are associated with the use of radioactive tracer methods. It is the most sensitive of all the standard surface analytical techniques, and is capable of detecting impurity elements at less than 1ppm concentration, and bulk impurity concentrations of around 1ppb in certain cases. The sample surface is bombarded with high-energy ions, leading to the ejection of neutral and charged species. The latter can include atoms, clusters of atoms and molecular fragments. Static SIMS is used for sub-monolayer elemental analysis, dynamic SIMS is used for investigating composition as a function of depth below the surface and imaging SIMS is used for spatially-resolved elemental analysis. Static SIMS plus time-of-flight analysis, rather than the usual quadrupole mass analysis, permits a more exact quantitative analysis of specimens. The present compilation of nearly 800 items covers a selection of mainly-quantitative results, obtained using secondary ion mass spectrometry, for diffusivities in a wide range of materials.

Betygsätt e-boken

Berätta vad du tycker.

Läsinformation

Smartphones och surfplattor
Installera appen Google Play Böcker för Android och iPad/iPhone. Appen synkroniseras automatiskt med ditt konto så att du kan läsa online eller offline var du än befinner dig.
Laptops och stationära datorer
Du kan lyssna på ljudböcker som du har köpt på Google Play via webbläsaren på datorn.
Läsplattor och andra enheter
Om du vill läsa boken på enheter med e-bläck, till exempel Kobo-läsplattor, måste du ladda ned en fil och överföra den till enheten. Följ anvisningarna i hjälpcentret om du vill överföra filerna till en kompatibel läsplatta.