SIMS Diffusion Studies

· Trans Tech Publications Ltd
Е-књига
450
Страница
Испуњава услове
Оцене и рецензије нису верификоване  Сазнајте више

О овој е-књизи

During the past 40 years, secondary ion mass spectrometry (SIMS) has become increasingly more popular for measuring diffusivities because it avoids the handling problems, environmental concerns and shortage of suitable isotopes which are associated with the use of radioactive tracer methods. It is the most sensitive of all the standard surface analytical techniques, and is capable of detecting impurity elements at less than 1ppm concentration, and bulk impurity concentrations of around 1ppb in certain cases. The sample surface is bombarded with high-energy ions, leading to the ejection of neutral and charged species. The latter can include atoms, clusters of atoms and molecular fragments. Static SIMS is used for sub-monolayer elemental analysis, dynamic SIMS is used for investigating composition as a function of depth below the surface and imaging SIMS is used for spatially-resolved elemental analysis. Static SIMS plus time-of-flight analysis, rather than the usual quadrupole mass analysis, permits a more exact quantitative analysis of specimens. The present compilation of nearly 800 items covers a selection of mainly-quantitative results, obtained using secondary ion mass spectrometry, for diffusivities in a wide range of materials.

Оцените ову е-књигу

Јавите нам своје мишљење.

Информације о читању

Паметни телефони и таблети
Инсталирајте апликацију Google Play књиге за Android и iPad/iPhone. Аутоматски се синхронизује са налогом и омогућава вам да читате онлајн и офлајн где год да се налазите.
Лаптопови и рачунари
Можете да слушате аудио-књиге купљене на Google Play-у помоћу веб-прегледача на рачунару.
Е-читачи и други уређаји
Да бисте читали на уређајима које користе е-мастило, као што су Kobo е-читачи, треба да преузмете фајл и пренесете га на уређај. Пратите детаљна упутства из центра за помоћ да бисте пренели фајлове у подржане е-читаче.