SIMS Diffusion Studies
David Fisher
marras 2013 · Trans Tech Publications Ltd
E-kirja
450
sivuja
family_home
Kelvollinen
info
reportArvioita ja arvosteluja ei ole vahvistettu Lue lisää
Tietoa tästä e-kirjasta
During the past 40 years, secondary ion mass spectrometry (SIMS) has become increasingly more popular for measuring diffusivities because it avoids the handling problems, environmental concerns and shortage of suitable isotopes which are associated with the use of radioactive tracer methods. It is the most sensitive of all the standard surface analytical techniques, and is capable of detecting impurity elements at less than 1ppm concentration, and bulk impurity concentrations of around 1ppb in certain cases. The sample surface is bombarded with high-energy ions, leading to the ejection of neutral and charged species. The latter can include atoms, clusters of atoms and molecular fragments. Static SIMS is used for sub-monolayer elemental analysis, dynamic SIMS is used for investigating composition as a function of depth below the surface and imaging SIMS is used for spatially-resolved elemental analysis. Static SIMS plus time-of-flight analysis, rather than the usual quadrupole mass analysis, permits a more exact quantitative analysis of specimens. The present compilation of nearly 800 items covers a selection of mainly-quantitative results, obtained using secondary ion mass spectrometry, for diffusivities in a wide range of materials.
Arvioi tämä e-kirja
Kerro meille mielipiteesi.
Tietoa lukemisesta
Älypuhelimet ja tabletit
Asenna Google Play Kirjat ‑sovellus Androidille tai iPadille/iPhonelle. Se synkronoituu automaattisesti tilisi kanssa, jolloin voit lukea online- tai offline-tilassa missä tahansa oletkin.
Kannettavat ja pöytätietokoneet
Voit kuunnella Google Playsta ostettuja äänikirjoja tietokoneesi selaimella.
Lukulaitteet ja muut laitteet
Jos haluat lukea kirjoja sähköisellä lukulaitteella, esim. Kobo-lukulaitteella, sinun täytyy ladata tiedosto ja siirtää se laitteellesi. Siirrä tiedostoja tuettuihin lukulaitteisiin seuraamalla ohjekeskuksen ohjeita.
