Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
J. Zemel
נוב׳ 2013 · NATO Science Series B ספר 46 · Springer Science & Business Media
ספר דיגיטלי
782
דפים
reportהביקורות והדירוגים לא מאומתים מידע נוסף
מידע על הספר הדיגיטלי הזה
From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy. A total of 80 attendees and lecturers participated in the program which covered many of the important topics in this field. The subject matter was divided to emphasize the following different types of problems: electrical measurements; acoustic measurements; scanning techniques; optical methods; backscatter methods; x-ray observations; accele rated life tests. It would be difficult to give a full discussion of such an Institute without going through the major points of each speaker. Clearly this is the proper task of the eventual readers of these Proceedings. Instead, it would be preferable to stress some general issues. What came through very clearly is that the measurements of the basic scientists in materials and device phenomena are of sub stantial immediate concern to the device technologies and end users.
רוצה לדרג את הספר הדיגיטלי הזה?
נשמח לשמוע מה דעתך.
איך קוראים את הספר
סמארטפונים וטאבלטים
כל מה שצריך לעשות הוא להתקין את האפליקציה של Google Play Books ל-Android או ל-iPad/iPhone. היא מסתנכרנת באופן אוטומטי עם החשבון שלך ומאפשרת לך לקרוא מכל מקום, גם ללא חיבור לאינטרנט.
מחשבים ניידים ושולחניים
ניתן להאזין לספרי אודיו שנרכשו ב-Google Play באמצעות דפדפן האינטרנט של המחשב.
eReaders ומכשירים אחרים
כדי לקרוא במכשירים עם תצוגת דיו אלקטרוני (e-ink) כמו הקוראים האלקטרוניים של Kobo, צריך להוריד קובץ ולהעביר אותו למכשיר. יש לפעול לפי ההוראות המפורטות במרכז העזרה כדי להעביר את הקבצים לקוראים אלקטרוניים נתמכים.
