Defects and Diffusion in Metals X

· Trans Tech Publications Ltd
E-kirja
288
sivuja
Kelvollinen
Arvioita ja arvosteluja ei ole vahvistettu Lue lisää

Tietoa tästä e-kirjasta

This tenth volume in the series covering the latest results in the field includes abstracts of papers which appeared between the publication of Annual Retrospective IX (Volume 265) and the end of May 2008 (journal availability permitting). As well as the 452 metals abstracts, the issue includes – in line with the new editorial policy of including original papers on all of the major material groups: “Defect Investigation of Plastically Deformed Al 5454 Wrought Alloy Using PADBS and Electrical Measurements” (Abdel-Rahman, Kamel, Lotfy, Badawi and Abdel-Rahman), “Activation Enthalpy of Dislocation Migration in Aircraft (Aerospace) (2024) Alloy by Positron Spectroscopy” (Abdel-Rahman, Abdallah, Hassan and Badawi), “Effect of Irradiation Dose on AlCu6.5 Alloy using Positron Annihilation Doppler Broadening Technique” (Abdel-Rahman, Lotfy, Abdel-Rahman and Badawi), “Dependence of Mono-Vacancy Formation Energy on the Parameter of Ashcroft's Potential” (Ghorai), “X-Ray Characterization of Ag Impurities in Na1-xAgxCl” (Hazeen, Syed Ali, Prema Rani and Saravanan), “Self-Organization Behavior of Sub-Micron CdO Grains Grown during Vapour-Solid Transition” (Zhang, Wang and Li), “Studies of the Local Structure and the Spin Hamiltonian Parameters for Co2+ in CaTiO3” (Lu, Wu, Zhang and Wei).

Arvioi tämä e-kirja

Kerro meille mielipiteesi.

Tietoa lukemisesta

Älypuhelimet ja tabletit
Asenna Google Play Kirjat ‑sovellus Androidille tai iPadille/iPhonelle. Se synkronoituu automaattisesti tilisi kanssa, jolloin voit lukea online- tai offline-tilassa missä tahansa oletkin.
Kannettavat ja pöytätietokoneet
Voit kuunnella Google Playsta ostettuja äänikirjoja tietokoneesi selaimella.
Lukulaitteet ja muut laitteet
Jos haluat lukea kirjoja sähköisellä lukulaitteella, esim. Kobo-lukulaitteella, sinun täytyy ladata tiedosto ja siirtää se laitteellesi. Siirrä tiedostoja tuettuihin lukulaitteisiin seuraamalla ohjekeskuksen ohjeita.