Applied Scanning Probe Methods I

· ·
· Springer Science & Business Media
Электрондық кітап
476
бет
Рейтингілер мен пікірлер тексерілмеген. Толығырақ

Осы электрондық кітап туралы ақпарат

This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques will benefit from the international perspective assembled in the book.

Осы электрондық кітапты бағалаңыз.

Пікіріңізбен бөлісіңіз.

Ақпаратты оқу

Смартфондар мен планшеттер
Android және iPad/iPhone үшін Google Play Books қолданбасын орнатыңыз. Ол аккаунтпен автоматты түрде синхрондалады және қайда болсаңыз да, онлайн не офлайн режимде оқуға мүмкіндік береді.
Ноутбуктар мен компьютерлер
Google Play дүкенінде сатып алған аудиокітаптарды компьютердің браузерінде тыңдауыңызға болады.
eReader және басқа құрылғылар
Kobo eReader сияқты E-ink технологиясымен жұмыс істейтін құрылғылардан оқу үшін файлды жүктеп, оны құрылғыға жіберу керек. Қолдау көрсетілетін eReader құрылғысына файл жіберу үшін Анықтама орталығының нұсқауларын орындаңыз.